深圳市禾苗分析儀器有限公司的光譜儀、ROHS儀x2034d9n深受廣大客戶的喜愛，公司與客戶建立了長期穩(wěn)定的合作關系。禾苗分析提供的膜厚分析儀、合金分析儀解決了廣大客戶的需求。禾苗分析實力雄厚，重信用、守合同、以優(yōu)質(zhì)的服務和誠實守信的原則，贏得了廣大客戶的信任。

   目前禾苗分析已與數(shù)百家客戶建立并保持了良好的合作關系，合金分析儀、XRF等優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品和服務深受客戶的認可。 延伸拓展 產(chǎn)品詳情：膜厚測試儀校準方法 膜厚測試儀校準方法 1儀器校零 1．1將測量探頭壓在鐵基上（或不帶涂層的測量體上），滄州歐譜再輕按一下校零鍵ZERO進行校零。在按ZERO鍵時，測量探頭在鐵基上不要晃動。同時要注意，只有在按完ZERO鍵后，才能提起探頭，否則，校零不正確。 1．2將測量探頭提起（或不帶涂層的測量體上），觀察鐵基上的測量值，若測量值在0附近，說明校零成功，否則，應得新校零。 2儀器校滿度 2．1根據(jù)要測量的涂層厚度，選擇 適當?shù)臉藴誓て?，進行滿度校準。 2．2先將標準膜片放在鐵基上（或不帶涂層的測量體上）。 C2．3再將測量探頭壓在標準膜片上，測量值就顯示在顯示器上，若測量值與標準膜片不同，測量值可通過加1鍵或減1鍵來修正。修正時，測量探頭一定提起，否則，按加1鍵或減1鍵無效。 2．4為保證校滿度的準確性，可通過多次測同一標準膜片來驗證。

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