深圳市禾苗分析儀器有限公司的光譜儀、ROHS儀x2034d9n深受廣大客戶的喜愛,公司與客戶建立了長期穩(wěn)定的合作關系。禾苗分析提供的膜厚分析儀、合金分析儀解決了廣大客戶的需求。禾苗分析實力雄厚,重信用、守合同、以優(yōu)質(zhì)的服務和誠實守信的原則,贏得了廣大客戶的信任。
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延伸拓展
產(chǎn)品詳情:膜厚測試儀校準方法
膜厚測試儀校準方法
1儀器校零
1.1將測量探頭壓在鐵基上(或不帶涂層的測量體上),滄州歐譜再輕按一下校零鍵ZERO進行校零。在按ZERO鍵時,測量探頭在鐵基上不要晃動。同時要注意,只有在按完ZERO鍵后,才能提起探頭,否則,校零不正確。
1.2將測量探頭提起(或不帶涂層的測量體上),觀察鐵基上的測量值,若測量值在0附近,說明校零成功,否則,應得新校零。
2儀器校滿度
2.1根據(jù)要測量的涂層厚度,選擇 適當?shù)臉藴誓て?,進行滿度校準。
2.2先將標準膜片放在鐵基上(或不帶涂層的測量體上)。
C2.3再將測量探頭壓在標準膜片上,測量值就顯示在顯示器上,若測量值與標準膜片不同,測量值可通過加1鍵或減1鍵來修正。修正時,測量探頭一定提起,否則,按加1鍵或減1鍵無效。
2.4為保證校滿度的準確性,可通過多次測同一標準膜片來驗證。
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